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在電子高科技應(yīng)用領(lǐng)域中，超大型集成電路因其巨大的功能致使其具有大量的外部連接。在幾十甚至幾平方厘米的芯片上，布有密集的引線連接點。在這種數(shù)量眾多的情況下，每個焊點都可能具有各種各樣的焊接缺陷，質(zhì)量很難得到保障，進(jìn)而因此對集成電路的可靠性造成了不容忽視的影響。
所以，由于其質(zhì)量保證的特殊性，廠家對其質(zhì)檢的方法和技術(shù)就提出了更高的標(biāo)準(zhǔn)。就目前而言，新的檢測技術(shù)不斷創(chuàng)新，檢測技術(shù)種類繁多，例如X-ray無損檢測技術(shù)，人工目測，自動光學(xué)檢測，在線檢測ICT，功能檢測FT等。以上技術(shù)就檢測方法方面而言，X-ray無損檢測技術(shù)具有更多的優(yōu)勢。 它不僅可以檢測BGA不可見的焊點，而且可以智能地分析檢測結(jié)果，為實現(xiàn)一次合格和零缺陷的目標(biāo)提供了非常有效的檢查方法。因此，當(dāng)前是最常用的便是X射線設(shè)備。通過x-ray穿透不透明的材料，形成清晰可見的透視圖以檢測焊接質(zhì)量。
對于無法通過外觀判斷質(zhì)量的產(chǎn)品，使用X-ray穿透不同密度的材料后的光強度變化來顯示被測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察被測物體，同時不會損壞測試對象內(nèi)部的問題區(qū)域。目前，使用x-ray檢測設(shè)備X射線設(shè)備的檢查項目主要包括：IC封裝缺陷檢查，對準(zhǔn)或橋接和開路不良，SMT焊點檢查，各種連接線中可能發(fā)生的異常連接檢查以及焊球完整性測試和測量芯片大小等。具體地說，它的優(yōu)點有：
（1）工藝缺陷覆蓋率高達(dá)97％?？梢詸z查的缺陷包括：虛擬焊接，橋接，背襯，焊料不足，氣孔，組件缺失等。特別是，X射線還可以檢查隱藏的焊點，例如BGA和CSP。
（2）更高的測試覆蓋率。它可以檢查肉眼和在線測試無法檢查的地方。例如，判斷為PCBA有故障，并且懷疑PCB的內(nèi)層已損壞。 X射線可以迅速檢查。
（3）大大縮短了測試準(zhǔn)備時間。
（4）可以觀察到其他測試方法無法可靠檢測到的缺陷，例如：錯誤焊接，氣孔和不良成型。
（5）雙面和多層板（具有分層功能）只需要進(jìn)行一次檢查。
（6）提供相關(guān)的測量信息以評估生產(chǎn)過程。如焊膏的厚度，焊點下的焊料量等。
近年來，X-ray檢測設(shè)備（X射線檢查設(shè)備）發(fā)展迅速。它已從2D檢查發(fā)展到3D檢查。它具有SPC統(tǒng)計控制功能，可以連接到裝配設(shè)備，以實現(xiàn)裝配質(zhì)量的實時監(jiān)控。目前，根據(jù)分層功能將3D檢測設(shè)備分為兩類：無分層功能和有分層功能。
作為中國較早的X射線檢查設(shè)備的專業(yè)制造商，X-ray檢測設(shè)備（X射線檢查設(shè)備）制造日聯(lián)科技率先打破X-ray檢測設(shè)備（X射線檢查設(shè)備）完全進(jìn)口的歷史格局，為集成電路的質(zhì)量提供了良好的檢查保證，因此人們可以使用更優(yōu)質(zhì)，更可靠的電子產(chǎn)品。
