X射線檢查與工業(yè)計算機斷層掃描[日聯(lián)科技]

X射線檢查與工業(yè)計算機斷層掃描

發(fā)布時間：2021-01-28 09:00:00

近年來，X射線斷層掃描技術(shù)已成為無損檢測材料性能的必不可少的手段。工業(yè)CT掃描可以輕松檢示復合材料的材料結(jié)構(gòu)。工業(yè)CT可以準確顯示從整個光纖到單個光纖的每個樣本。復合零件的每個結(jié)構(gòu)與尺寸都可以通過一個CT數(shù)據(jù)集進行評估。在聚合物領(lǐng)域，CT技術(shù)在確定材料成分以及將微觀結(jié)構(gòu)與最終物理性能聯(lián)系起來方面也具有特殊價值。

高分辨率采集的質(zhì)量取決于幾個參數(shù)，包括了解聚合物對X射線的敏感性，清晰的相襯度以及特定分析所需的分辨率參數(shù)的定義。高分辨率CT采集需要X射線源聚焦的高穩(wěn)定性，但也需要樣品的高穩(wěn)定性。輕質(zhì)材料對X射線敏感，并且在掃描過程中會變形。復合材料的高分辨率檢查是無損顯示纖維取向與分布的強大工具。在獲得并重建樣本之后，可以通過定義的灰度值來區(qū)分材料成分。

在層析成像過程中，需要考慮兩件事：樣本量與視野。兩者之間同樣密切影響。樣本量在信號傳輸量中起著重要作用，從而會影響圖像質(zhì)量。樣本越大，保持信噪比的掃描時間就越長。而視野取決于幾何分辨率（或體素大?。Ｒ虼?，當樣本大于視野時（在高分辨率下），就只能在感興趣區(qū)域（ROI）而不是整個樣本上進行采集。

工業(yè)CT與普通的X射線檢查不同。它通過連續(xù)獲取2D斷層圖像來執(zhí)行3D圖像重建，因此它可以收集更多信息并具有更強的檢測能力。它不僅可以檢測缺陷的形狀，位置和大小，而且可以結(jié)合密度分析技術(shù)確定缺陷的性質(zhì)，從而長期以來一直困擾著缺陷空間定位和深度量化等綜合定性問題。受無損檢測人員困擾的解決方案更為直接。因此，國際無損檢測界將工業(yè)CT視為**的無損檢測方法。

日聯(lián)科技的高精度工業(yè)CT系統(tǒng)UNC225CT應(yīng)運而生。它可以對各種產(chǎn)品執(zhí)行工業(yè)CT無損檢測，例如小型金屬零件，電氣部件，復合材料，中型金屬零件和大型非金屬工件。較大的扇形角度，較寬的扇形束和強大的圖像處理功能可以準確識別被檢工件的多個缺陷。

目前，工業(yè)CT由于其強大的測試功能，已經(jīng)成為無損檢測最重要的發(fā)展方向。購買測試設(shè)備時，公司不妨考慮其發(fā)展趨勢。CT設(shè)備更加注重細節(jié)，圖像的處理精度很高，包括運動精度和旋轉(zhuǎn)精度。在可以執(zhí)行3D合成之前，以每個角度拍攝的圖像必須處于μ級。如果存在偏差，則在合成期間會發(fā)生錯誤。如果無法進行校準，則圖像將非常模糊，并且可能會堵塞缺陷位置。這是CT設(shè)備的技術(shù)難點。

2D設(shè)備目前在市場上得到廣泛使用，可以滿足大多數(shù)客戶的測試需求。兩者都有自己的優(yōu)勢，具體取決于公司對檢查圖像的要求。當前，許多行業(yè)產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計更加復雜，產(chǎn)品也越來越精細，因此CT設(shè)備應(yīng)是最*選擇。

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